XRD薄膜附件采用单一来源方式采购征求意见公示

XRD薄膜附件采用单一来源方式：（略）

依照《中华人民共和国政府采购法》及《深圳经（略）政府采购条例》相关条款规定情形，XRD薄膜附件采购项目拟采用单一来源方式：（略）

项目名称：（略）
XRD薄膜附件
预算金额
人民币肆拾捌万元整（480000.00元）
技术需求
1、详细配置名称：（略）
（略）
详细配置名称：（略）
数量
单位：（略）
备注
一
XRD薄膜功能模块
1
套
接受进口
本项目核心产品为：XRD薄膜功能模块。

2、具体技术要求
（略）
详细配置名称：（略）
技术要求
1
XRD薄膜功能模块
1.1、chi-phi样品台
样品尺寸要求：直径≤φ100mm、厚≤8mm、重≤200g；χ轴（样品倾斜）要求：-5～95°（最小步长：0.002°）；φ轴（面内旋转）要求：±360°（最小步长：0.005°）；旋转速度要求：0.1～1800°/min（101°/min以上时只摇动）；Z轴（样品厚）要求：-9～+1mm。
1.2、入射单色器：Ge440四晶分析器，可以通过软件进行自动调节。
1.3接收端晶体：Ge220双晶，可以通过软件自动调节。
1.4高分辨薄膜分析模块。
拟邀请供应商
（略）
拟邀请供应商地址：（略）
广东（略）
申请理由及相关说明
根据《中华人民共和国政府采购法》及《深圳经（略）政府采购条例》，符合以下情况的采购项目，可以采用单一来源方式：（略）
本次采购符合上述第4条“其他具有复杂性、专门性、特殊性的项目，且只有唯一供应商的”情况，特申请单一来源采购，请予批准。
（以下请具体说明申请单一来源采购的理由）
薄膜高分辨率X射线衍射(HRXRD)是一种强大的无损检测方法，主要研究应用在单晶材料、单晶外延薄膜材料以及各种低维半导体异质结构。广泛应用于单晶质量、外延薄膜的厚度、组分、晶胞参数、缺陷、失配、弛豫、应力等结构参数的测试。（略）承接各种不同种类的样品，要求对各种样品适用面广，因此需要扩展薄膜高分辨测试能力，更好地满足薄膜类样品测试需求，为半导体，光电等相关产业研究提供技术支持服务。（略）制造生产的SmartLab9kWX射线衍射仪(XRD)，为了节约采购成本，我们将在现有的设备基础上采购增加高分辨薄膜功能模块，以便更好的为校内外提供薄膜高分辨XRD测试服务。因为薄膜高分辨测试模块属于功能扩展升级零部件，不能单独使用，必须安装在XRD设备主机上才能运行实现其薄膜测试功能。同时考虑到薄膜功能模块的配套适用性，即其他厂家制造的薄膜功能模块在我们现有的XRD主机设备上无法安装运行。所以只能从XRD（略）购买相应配套的薄膜模块以实现薄膜测试功能升级。（略）在华（略）的总授权，且该项目满足学校单一来源采购规定，（略）采购XRD（略）的XRD薄膜功能模块。
公示期限
从2024年04月08日起至2024年04月12日止。
采购人：（略）
联系人：（略）
宋老师
联系电话：（略）
（略）8
联系地址：（略）
（略）深圳技术大学
（略）
联系人：（略）
谢老师
联系电话：（略）
（略）6
联系地址：（略）
（略）110室
注：潜在采购供应商对公示内容有异议的，请于公示期限内以实名书面（包括联系人：（略）